“芯片表面微波磁场高分辨测量关键技术”项目科技成果评价会在京举行
1月12日,“芯片表面微波磁场高分辨测量关键技术”项目科技成果评价会在中国电子科学研究院科研楼举行。评价会由中国民营科技促进会秘书长周迎主持召开;由中国工程院院士刘永坚任评价专家委员会主...- 0
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“芯片表面微波磁场高分辨测量关键技术”项目科技成果评价会在京举行
1月12日,“芯片表面微波磁场高分辨测量关键技术”项目科技成果评价会在中国电子科学研究院科研楼举行。评价会由中国民营科技促进会秘书长周迎主持召开;由中国工程院院士刘永坚任评价专家委员会主...